簡(jiǎn)要描述:渦測(cè)厚儀 型號(hào):MHY-16251 儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁件表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
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渦測(cè)厚儀 型號(hào):MHY-16251
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁件表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品行快速、無(wú)損的膜厚檢查, 可用于檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
儀器符合家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦法》。
儀器點(diǎn)
MHY-16251型渦測(cè)厚儀的點(diǎn):
*量程寬 MHY-16251型的量程達(dá)到0~500μm。
*度 MHY-16251型的測(cè)量度達(dá)到2%。
*分辨率 MHY-16251型的分辨率達(dá)到0.1μm。
*校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn),即可在量程范圍內(nèi)保證度。
*基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量
誤差不大于1~2μm。
*可靠性提 采用集成度、穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性
提。
*穩(wěn)定性提 采用的溫度補(bǔ)償,測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
校正次可在現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
*探頭線壽命長(zhǎng) 采用德口的,在德測(cè)厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命
可大大延長(zhǎng)。
*探頭芯壽命長(zhǎng) 采用強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭,探頭芯壽命可大大延
長(zhǎng)。
*探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)
需返廠維修。
測(cè)量范圍: 0~500μm
測(cè)量度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm、
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 260g
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