偏光應(yīng)力儀可對(duì)透明及弱色材料的雙折射率行檢測(cè)，并通過Senarmont補(bǔ)償法計(jì)算出光程誤差不過10nm的雙折射率的值。并通過偏振光對(duì)雙折射率的分布行檢測(cè)分析。折射率的分布和大小直接反應(yīng)出材料應(yīng)力的分布與大小、

檢測(cè)方法

1. Crossed Nicols 觀測(cè)法

2.Sensitive Color Method 感光色檢測(cè)法

3. SenarmonMethod 補(bǔ)償法

Senarmont補(bǔ)償法可以行應(yīng)力定量分析檢測(cè)。打開電源，未放樣品整個(gè)視野范圍是黑褐色的，放入樣品，不旋轉(zhuǎn)檢偏鏡，觀測(cè)出亮點(diǎn)即為應(yīng)力較大點(diǎn)。旋轉(zhuǎn)檢偏鏡上的刻度盤，直至亮點(diǎn)變成黑褐色，記錄此時(shí)刻度盤旋轉(zhuǎn)的角度及該點(diǎn)的厚度，即可用公式換算出應(yīng)力值。

計(jì)算公式:標(biāo)準(zhǔn)光延遲nm/mm=(3.14nm*檢偏鏡旋轉(zhuǎn)角度)/被測(cè)點(diǎn)的厚度mm

應(yīng)力Mpa=光程差nm/(被測(cè)點(diǎn)的光路長(zhǎng)cm * 光彈系數(shù)(nm/cm/Mpa))

適用范圍

l 適合于檢測(cè)燈等有復(fù)雜構(gòu)的產(chǎn)品。

l 檢測(cè)密度的塑料產(chǎn)品，如隱形眼鏡等。

l 檢測(cè)光學(xué)晶體，如氟化鈣(螢石)等。